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紅外熱像儀IR-InSight XS/XST
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熱成像儀Fluke Ti32
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簡(jiǎn)介：溫度測(cè)量范圍（-10 °C 以下未經(jīng)校準(zhǔn)） -20 ℃ ～ +600 ℃ (-4 ℉ ～ +1112 ℉) 準(zhǔn)確度 ± 2 ℃ 或者 2 %，取大值 發(fā)射率修正 是 背景溫度補(bǔ)償 是 傳輸校正 是
Fluke1507/1503絕緣電阻測(cè)試儀
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